测试嵌入式存储器的标准技术

陷诊断中采用速度相对较慢的时钟来将缺陷数据输送给测试器就会暴露出这一 问题。如果存在多个缺陷，则BIST必须停止以等待缺陷数据输送给测试器。但如果BIST在数据输送完以后即简单地重新开始，则全速测试模型将被破坏，而 缺陷也就有可能被漏掉。为解决这一问题，存储器BIST必须能重启测试，以返回到以前的地址上并跳过那些已经报告的缺陷。这使得BIST能获得一次新的运 行启动，以确保诊断分析期间能将测试模版正确地应用到所有存储器单元上，并使其达到全速。

可实现March算法定制变体的灵活存储器BIST引擎加上增强的全速应用，为确保对具有数百个嵌入式存储器的SoC设计进行高质量的测试提供了一个坚实的基础。随着芯片设计向存储器多于逻辑单元的方向发展，存储器BIST将成为提高DPM、产品质量及良品率的主要功臣。

Mark Chadwick是Mentor Graphics公司存储器BIST产品事业部经理。

作者：Mark Chadwick