提升IC测试厂的产能利用率

线上的工程师，常被要求采集标准样品的测试数据与先前测过的标准数据做一一比对，这样做较费时并且不易分辨细微的区别。现在较先进的做法是由电脑直接选取标准样品，再到测试系统上执行测试，测试机自动收集测试数据，与服务器上标准数据作详细比对；若比对不能通过，系统将会显示测试失败的地方，以利于线上工程师依序排除错误。自动化的另一优点是以最小的样品数取得最多的资料点，藉由系统统计的判断，指出系统的状况，如此就可减少比对样品的使用次数，进而降低样品的故障率，而能省下比对样品的成本。

　　测试资料收集系统

　　每一颗IC均有数十项到数百项测试项目，测试机可记录每一颗测试读值，并将整批测试资料上传到服务器。资料收集及上传会占用测试机时间，运用电脑的技巧以处理大量的资料是目前正在努力的方向。当资料存在服务器后，可做进一步的分析，如产品特性分析、合格率分析、Binning分析、Waftermap分析等等。有些客户会要求将原始测试资料传回公司再做分析，这些要求都需要有强大的服务器与快速的网络系统。

　　自动排产系统

　　自动测试设备虽可称为万用测试系统，但测试厂却还是常因为客户产品的不同种类而伤透脑筋。自动测试系统通常是在一个大的测试头上装有一、二十个插槽，依据待测IC的测试指标组成不同的配置，例如设计成1槽插放通用电源，2至5槽插放中速逻辑波形发生/接收器，6槽插放高速逻辑波形发生器，7槽插放中频信号发生器，9槽插放低频高分辨率频谱分析仪等。由于测试厂要服务多家客户及多种产品，目前没有一种自动测试设备能用一种配置覆盖所有的IC种类，所以退而求其次，只能异中求同，尽量将相似的产品归类，分成多种分类来管理。但实际上除硬件配置不同外，还有软件配置的不同，如A类待测IC，需在系统程序V3.2.6.1版本，Pin卡速度400Mbps，存储器56M，32种波形表等等，一般的测试厂需要很小心去管理这一切，将每种待测IC的硬件与软件配置列表，再将配置相似的自动测试设备分组交由生产管理人去排产，而要生产时再由生产线工程师去设置，有时，由于配置不对，需要替换或移动硬件，有时需要转换系统程序版本，这都会浪费系统的准备时间，较先进的做法是利用电脑自动化来管理，事先检查与系统实时配置管理，以减少不必要的安装时间，并提高自动测试系统的产能利用率。

　　生产知识/经验库

　　生产线上的待测IC，大部分已可列入流程管理系统，但某些工程实验品/批或测试开发时的实验品，却需靠生产注意事项告知生产线如何做，问题常发生在有些批已变成工程实验批或交班不清或注意事项未注明异常处理等等，造成生产线需紧急呼叫产品工程师或导致生产异常。倘若能将此注意事项电脑化，当生产批号被输入时即能将工程实验批的流程与步骤、注意事项显示在自动测试系统的屏幕上，并指导操作工如何操作，这将减少生产线异常状况的发生。如何能累积生产经验并提醒每班的生产技术员，则有赖于知识库的建立；通过整理及查询系统，相信能提高所有技术人员解决问题的能力，以减少停机。

　　统计过程控制

　　理论上，我们可以通过生产线的实时资料收集系统，通过资料库的统计理论转而对当前待测IC做某些测试项目的删减，而达到缩短生产时间的目的。但前提是自动测试系统的一致性检验资料、待测样品取样资料及生产一段时间后的自动QA比对系统与失效重测的处置，都须清楚地注明货批处理与系统自动化。现有系统只能做到开路/短路连续发生时的管制，Soft Bin超出的处置，或测完后的合格率的管制，希望我们能通过生产资料的实时计算、比对以及清楚的处理流程达到缩短测试时间的目的。

　　结论

　　要提高测试厂的产能利用率，就要减少异常的发生。通过事先的检查、确认与生产线自动化，如前所提的自动排产系统、自动程序载入器、一致性检验系统、产能监控器、测试资料收集系统、生产知识库、统计过程控制系统，相信能对自动测试系统产生最大的利用率与测出世界级的品质。