微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 业界新闻 > 技术越来越难,测试却越来越简单

技术越来越难,测试却越来越简单

时间:09-23 来源:3721RD 点击:

参考解决方案主要用在哪些领域?所有的测试测量都可以用吗?用户首先会提出这样的疑问,答案自然是否定的。郑纪峰表示,"从目前的应用角度来看,我们更关注于射频微波测试,这种射频器械的测试以及高速的数据采集的测试。数月以前,我们开始致力于这种参考解决方案的制定,通过与用户深度的结合,沟通,去解决在测试测量中遇到的关键问题,这种参考解决方案具备了非常高的可实施性,我们将这种单一的模块、单一的软件紧密地结合在一起,去帮助用户实现测试测量。参考解决方案的优势是,可以更好地降低用户的测试风险,来帮助用户应对测试的挑战。比如,功率放大器的测试为例,我们可以提供70%到80%的测试关键点,这样就可以帮助用户极大地减少测试开发周期,降低测试风险。"

"目前我们有7个参考解决方案提出,未来会更多,除了功率放大器的测试,还包括像多校准,卫星信号监测,以及5G测试参考解决方案,参考解决方案会是我们未来主要的一个推进方向。" 郑纪峰强调。

看完以上的介绍,不知用户需要哪方面的参考解决方案呢?欢迎讨论。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top