R&S公司的数字微波传输设备IDU测量解决方案

在实际环境中的性能测试大多是到现场进行测试，这种做法的缺点就是成本太高，例如几个相隔很远的站点现场测试，需要搭建设备、微波天线等设备设施及人员，耗时、耗力，而且测试过程中会存在较多的未知和不可控的误差因素（见图5）。

图5 数字微波传输无线信道模型

R&S的双通道信号源SMU200A由于可以模拟多径衰落及高斯白噪声的影响，因此可以解决数字微波IDU在实际环境应用中可能会出现的因素，例如衰落、多普勒效应、时延、损耗等。换句话说，需要采用无线信道模拟器来实现以上各类效应来进行测试，测试装置及框图参见图6。

图6   SMU200A和FSQ形成的方案

对于该测试，R&S 推荐的测试方案为采用SMU200A+FSQ 实现的射频衰落模拟器：
●SMU200A ：矢量信号源(SMU-B14 ：衰落模拟器；SMU-B17 ：基带输入)。
●FSQ ：信号分析仪(FSQ-B17 ：数字基带接口)。
在此方案中，R&S测试平台不仅可以完成衰落模拟的试验，同时也可以进行高斯白噪声AWGN的模拟，简化数字微波传输设备IDU的C/N和BER测试，具体参见图7。

图7 SMU200A进行BER~C/N测试方框图
 
5  数字基带测试
在研发阶段，为了保证各级电路的功能和性能符合设计要求，分级测试是必要的。数字电路是数字微波室内单元信号处理的核心部分之一，数字微波传输设备的配置、编程、组网以及通信能力很大程度上取决于数字部分。因此，对数字电路部分进行测试是必不可少的。
作为欧洲最大的无线电测试、测量仪器制造商，罗德与施瓦茨公司对各种不同通信标准基站的射频测试都拥有丰富的实际经验，罗德与施瓦茨公司全系列的高性能仪表在基站、终端研发和生产中得到了广泛应用。目前，R&S推出的EX-IQ-Box设备可以提供灵活的数字接口输入和输出功能，能方便连接到R&S的信号源和信号分析仪上，可进行接收机测量、发射机测量、信号源仿真及射频前端模拟等功能。
通常，对发射部分数字电路测试时，会直接对电路输出数字IQ 信号进行测试，分析其调制质量，如EVM；对接收部分数字电路测试时，会直接对其输入数字IQ信号进行接收性能测试，也可以在源部分加入噪声与衰落效应，进一步进行测试（见图8）。

图8  数字基带测试平台

根据以上要求，R&S 推荐的测试方案为：
●SMU200A：矢量信号源。
●FSQ：矢量信号分析仪。
●EX-IQ-Box：数字IQ 信号格式转换器。
矢量信号源SMU200A 和矢量信号分析仪FSQ 具备强大的信号产生和分析能力，是恰当的发射和分析性能测试工具。此外，对于数字电路部分的测试，SMU200A 和FSQ 均提供了数字IQ 的输入／输出接口，该接口为TRV290（R&S 内部数字接口格式），为了与外部被测设备的数字接口匹配，R&S 提供了EX-IQ-Box，该转换器可TVR290 接口格式转换为通用的数字信号接口格式，反之亦然。