2010 安捷伦测试测量大会：推动无线和数字领域的协作与创新

测方面，根据测试标准提供了丰富的测试项目，因而被广泛用于手机研发、手机主板生产、手机天线研发及 GPS、CMMB 无线模块等研发生产领域，本此会议上针对这些测试一一做出了解答。

7 安捷伦 LTE吞吐量测试的集成方案

LTE技术的出现，无论对于系统厂商还是测试厂商，都带来了前所未有机遇与挑战。与以往2G/3G时代不同，LTE标准化组织对于接收机的测试也提出了新的要求。会议上以安捷伦业界领先的信号发生器 MXG 和信号分析仪 MXA 为基础，结合 SystemVue 2010 中 LTE library 库，阐述在 LTE的 eNB接收机吞吐量测试中所面临的各种挑战，以及安捷伦公司为应对挑战而研制的全新的独特的软硬件结合的解决方案。

8 WiFi 技术发展与 802.11n 的设计与验证

无论是最新的 B3G 还是WLAN 标准，为了提高传输数据的吞吐量和传输可靠习惯，各种先进的技术都采用了 MIMO OFDM 的通信技术，甚至引入了 8 阶的 MIMO（即 8 个发射机和 8 个接收机）以及先进的发射波束成型（beamforming）技术。本次会议上介绍了 802.11n 和 802.11ac WLAN 的测试标准和指标需求，以及动态频率选择（DFS）预认证测试。

9 安捷伦新一代微波射频电路测试解决方案

无论是无线通信技术，还是国防军工领域，其最新发展对射频微波元器件提出了越来越高的要求，微波电路在朝着小型化、大功率、集成化、批量化、低成本等方向发展，从而要求有与之相适应的、高可靠性、高可信度的测试手段。一直作为业界标杆的 PNA-X微波网络测试平台又进一步将测试能力扩展到 43.5GHz和 50GHz。业界最高性能的 PXA信号源分析仪以及输出功率高达1 瓦的大功率微波信号源在内的多种元器件测试方案更将使您的研发和生产工作如虎添翼、效率倍增。与此同时，越来越多的研发测试工程师希望用一台更为通用的仪表来解决其日常工作中的器件的测试问题--不仅要测试射频器件的 S 参数，还要测试低频、非 50 欧姆器件的频率响应特性。这种范围更广的测试在今天的高速数字电路、汽车电子、无线通讯等领域中越来越常见。

安捷伦科技最新的 E5061B 的测试频率从 5 Hz 开始，一直到 3 GHz，体积更是只有 E5071C 的一半，除了进行传统的射频 S 参数之外，还能对众多的低频器件的参数进行测试，是研发工程师在日常工作中首选的多功能低频、射频测试仪表。

10网络仪助您决胜功放测试与非线性 X参数测试

安捷伦科技全面的网络测试仪器已逐渐成为业界翘楚，从器件测试生产到研发，从 S参数到非线性器件设计，再到 X 参数器件模型和非线性矢量网络测量，安捷伦网络仪表可以以前所未有的测量速度和精确性对有源器件的特性予以充分的表征，大大加快有源器件的设计流程。PNA-X NVNA 可以完成非线性元件的特性描述，提取非线性 X 参数，显示非线性脉冲包络域，创建用户定义的参数显示方式，例如动态 I/V 曲线，提取完整的输入和输出波形数据，以建立用户定义的模型，并使用前面板图形用户界面(GUI)和远程编程接口，快速、简单地进行设置和测量。 X 参数与 ADS 设计和仿真工具相结合，可以将设计迭代最小化、加快仿真速度，并可确定性地为有源器件的非线性行为特性建模。安捷伦的 X 参数是基于对被测件进行测量的行为模型，相对于传统器件物理模型的数据参数表，它更可以完整表征器件的工作特性，并同时更好地保护器件的知识产权。