NI发布《2010自动化测试前景报告》

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）于4月13日发布了《2010自动化测试前景报告》，就创新技术对当今测试测量应用的影响发表了研究结果。报告涵盖了通信、国防航空、半导体、汽车和消费电子等众多产业，力图帮助工程师和管理者了解自动化测试领域的最新发展趋势及其影响。

NI通过与众多涉及不同领域的公司进行交流，对技术发展趋势进行了广泛的研究，从独特的视角观察测试测量市场。《2010自动化测试前景报告》结合了学术研究、商业咨询、用户调查、在线论坛、客户反馈和区域销售代表讨论的结果。以此数据为基础，该报告阐述了未来测试测量趋势以及如何应对测试测量行业所面临的市场挑战与技术挑战。

《2010自动化测试前景报告》从五个角度出发进行阐述：这五个角度分别是商业策略、构架、计算、软件和硬件I/O。报告在每一类中详细阐述了影响测试测量行业的发展趋势、方法或技术。报告谈论了以下五个主题：

• 标准化：开发通用的平台，降低成本，在产品的整个生命周期中可重复利用测试系统
• 多通道RF测试：测试下一代无线设备需要一个从信号层面到软件层面的并行测试架构
• Peer-to-Peer计算：越来越复杂的测试要求需要更高的性能和点对点计算构架
• 嵌入式设计与测试：通过实时测试软件，工程师可以在测试阶段复用他们在产品开发过程中建立的嵌入式系统模型
• 可重配置的仪器：基于FPGA的仪器通过引入硬件级的自定义特性，进一步提高了性能和灵活性

敬请访问www.ni.com/ato，查看《2010 自动化测试前景报告》。报告中文版将于近期推出，敬请关注。

此外，第七届PXI技术和应用论坛将于今年5月28日在深圳召开，欲了解更多自动化测试相关信息，可登陆http://www.epc.com.cn/pxitac2010/进行报名。

发布者：小宇