传统测试设备与合成仪器的选择

测量、恢复时间、s参数、寄生，以及TOI（三阶互调）。图2是Pout与Pin的屏幕截图以及相应列表数据。图3是一个脉冲测量屏幕截图，以及一些相应列表数据。图4是一个频谱/寄生测量，以及一些相应列表数据。上述全部测试都在几分钟内自动顺序完成。除了测试报告以外，SMART^E亦扩展了测试记录与调试功能。图5位记录/调试的屏幕截图。对于生产测试，还可以用批处理顺序来加快测试速度，同时还能提供合格/不合格的标准与结果，图6显示了这种功能。

SMART^E 5100 T/R模块测试环境的第一个大规模采用者是欧洲的两家主要军工航天企业。这些公司一直用它作合成口径雷达相关的T/R模块测试，这种雷达用于防空和卫星系统。

　　作者介绍

　　Dr. Francesco Lupinetti是Aeroflex Test Solutions公司的首席技术官，从2006年起，成为Aeroflex综合测试系统部的副总裁兼总经理。他有25年的应用研究、产品与业务开发、以及工程和常规管理经验，曾在爱立信、Selex Communications、The MITRE公司，以及Sandia国立实验室供职。Lupinetti博士在密西西比州立大学获得了学士、硕士和博士学位。