Mentor：创新技术推升半导体业对DFT的需求

计通常同时包含逻辑与嵌入式内存。过去，许多公司为内存自行开发自有BIST解决方案，但现在的设计中拥有极大量的嵌入式内存，自行开发将会非常困难，也因此，这些公司转向寻求商业化工具。

我们也为边界扫描(Boundary Scan)标准提供工具。边界扫描可用在2个地方，其一是用于控制芯片内部结构，可藉此修复数据；另一方面是，当多个芯片放在同一电路板上时，正如其名称，边界扫描可提供电路板内部互连存取，这就是我们测试复杂电路板的方法。再加上扫描链插入工具，形成了一套完整的数字测试工具组。

此外，我们也开发了一些诊断工具，测试器捕捉到一些失败的信息，告知该失败的芯片处于哪些循环周期，我们了解所开发的模式，因而得以推算该测试为何会失败，也能推理出闸级、桥接，或者是时域等相关问题。

Janusz Rajski
Mentor Graphics DFT产品部首席科学家暨工程执行长