集成闪存测试系统趋势

结论

闪 存器件向高密度高速发展的趋势使得传统的测试结构已经不能满足闪存的测试需求，尤其集成了较大存储阵列、微控制器和其他数字逻辑的器件已经超过了传统测试 解决方案的能力。随着存储器器件在面积、速度和复杂度方面的增长，制造商正寻找成本效益更高的单一流程测试解决方案以应对目前的测试挑战。通过开发新的测 试结构，制造商可以使用高成本效益的下一代测试平台更有效地应对刚出现的复杂闪存的测试需求。综合了模块化结构、具有独立测试资源的高性能 仪器和高产能的开发环境的测试系统，可以使存储器制造商仅使用一台桌面系统即可对闪存和嵌入式存储器进行一次性的多工位测试。基于创新的片上结构，下一代 测试系统分配给每个被测器件专用的测试资源，其可扩展性可以满足现有的和下一代复杂闪存和嵌入式闪存的测试需求。

作者：Thomas Trexler，科利登公司存储器测试系统市场总监