吉时利发布面向高吞吐量晶圆生产测试的半导体测试软件的升级版KTE 5.3

美国俄亥俄州克利夫兰，2011年9月19日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司发布了获得业界好评的吉时利测试环境（KTE）半导体测试软件的升级版。KTE V5.3是专为配合吉时利迄今为止最快、最经济有效的过程控制监控方案产品线S530参数测试系统设计的。关于KTE V5.3的详细信息，请访问：http://www.keithley.com/data?asset=55833

KTE是一款强大的测试开发和运行软件平台，全球有数百家半导体晶圆厂都在使用吉时利前几代的参数测试系统。现在，吉时利的S530测试系统利用这个被业界长期验证的软件平台在最苛刻的生产环境中实现了灵活的测试计划开发和高速测试。现有吉时利S400和S600系列参数测试仪用户将特别受益于S530系统上的KTE V5.3，因为可以将既有测量程序轻松地移植到S530，而且现有测试仪和新的S530系统可以共享同一个测试计划。

将KTE测试开发和运行环境扩展至S530系统结合了吉时利30年的参数测试代码开发实践经验和市场上最快、最先进的系统硬件优势。S530仪器提供过程控制监控等参数测试应用要求的高速度和宽测量范围。

吉时利致力于让新测试系统高度兼容较早的系统支持吉时利参数测试客户。保持软件兼容性的承诺确保了移植路径更为平滑并能在测试平台上加入更新、更高速测试仪以保护晶圆厂的测试软件投资。

对于吉时利参数测试的新客户，恪守系统软件连续性的承诺意味着客户会对基于业界长期验证软件的测试系统充满信心。

对于已经使用KTE较早版本的客户来说，KTE V5.3加速并简化了S530测试系统到测试平台的集成。

同一种测试方法和测试方案适用于所有吉时利自动参数测试系统，这不仅缩短了使用多个系统的测试工程师和操作人员的学习过程，而且在测试平台增加新的高速系统或取代较早平台时提供平滑的移植路径以保护晶圆厂的测试开发投入。 用户只需重新编译和重新生成多年来为更早的吉时利系统开发的常用用户库，就能继续在S530上使用这些用户库。通常，只需进行少量调试。 KTE V5.3简化了创建条件测试序列的新用户访问点（UAP）源代码以及定制S530的系统工作流程。为早期吉时利系统开发的UAP源代码适用于S530系统，只需作少量调整。 KTE的工具对吉时利所有参数测试平台都具有完全相同的功能性。

面向S530的KTE适于在标准工业PC的Linux操作系统上运行以确保长期稳定性和易于维护性。该软件已针对高吞吐率生产测试环境作了速度和扩展可靠性的优化。运行KTE V5.3的S530系统能实现过程控制监控、过程可靠性监控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V测量。S530系统针对必须适应广泛产品组合的生产参数测试环境，或者在宽范围应用灵活性和快速测试方案开发等至关重要的场合中的使用进行了优化。

了解更多信息

关于面向S530的吉时利测试环境V5.3的更多信息，请访问：http://www.keithley.com/data?asset=55833。

下载S530系统功能手册，请访问：http://www.keithley.com/data?asset=55774。

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关于吉时利公司

美国吉时利仪器公司拥有60多年的测试与测量的丰富经验，已经成为先进电气测量仪器和系统的世界级领导者，专为全球电子行业的科研人员和工程专家的先进材料研究、半导体器件可靠性及生产制造，以及终端产品生产如移动无线设备提供卓越的解决方案。吉时利仪器公司对客户的核心价值在于：满足严苛测量需求，更注重完美贴合设计应用，由此改善客户产品质量并助其降低成本。2010年，吉时利仪器与泰克测试测量业务合并。