泰瑞达(Teradyne) 推出D750Ex 高密度 LCD 驱动IC测试系统

Teradyne 日前宣布推出最新的 D750Ex™ LCD 驱动IC测试系统 (D750Ex™ LCD Driver Test System)。D750Ex 专门设计用以测试高分辨率 LCD 驱动器IC。奇景光电 (Himax Technologies Limited) 为位于台湾的无晶圆 驱动IC设计厂商，采用本系统测试其下一代的大尺寸驱动器与手机驱动IC。奇景光电目前使用 D750Ex 进行生产。 先前 J750 平台的表现相当成功，已在全球有超过 2600 台的系统装机量，而此次D750Ex 即以原J750 平台作为基础。

奇景光电的业务包括设计、开发、营销对平面显示器至为关键的半导体产品。奇景光电的技术长蔡志忠表示：「我们选择了 D750Ex 是因为这套系统生产效能高、体积小，非常能符合我们在生产、产品上市以及测试成本方面的需求。D750Ex 的弹性转换功能让我们不但可以测试 LCD 驱动IC，也能于同一平台上测试逻辑设备。」

市场调查公司iSuppli Corp 的显示器部门副总裁Paul Semenza 表示：「我们预期接下来几年消费者对于高分辨率电视、计算机屏幕、和手持设备的需求，将急速推动 TFT-LCD 半导体的市场。iSuppli 预测 2008 年 LCD 驱动IC的单位成长量将达15.1 %，同时也估计随着全球需求上扬的趋势，驱动IC的数量会从去年的 69 亿成长到 2010 年的99 亿。」

D750Ex 系统确实提供了一个每脚端(Pin)高密度资源的架构，可支持整体程序超过 97% 的平行测试效率。D750Ex 也同时具备嵌入式 DSP 与中央式 DSP 的架构，可增加处理效能。此系统的体积很小，与必须同时使用大型计算机柜和测试头的竞争对手系统相较，所需的空间减少了 50-85%。

D750Ex采用一万用接口端口 (Universal Slot) 的架构，可根据设备测试需求将多种类型设备放置于同一系统中。D750Ex 也提供了内存测试选项 (Memory Test Option, MTO)，无须额外的埠即可在一次完成测试行动驱动IC。在竞争对手的系统上，行动设备必须于两个平台上测试，一个平台测试 LCD，另一个平台测试内存。D750Ex 适用于各通道的「任一脚端」架构，大幅简化了探针卡的设计，也使得多点测试的开发环境更为弹性。

Teradyne LCD 驱动IC业务部的总经理 George Rose表示：「LCD 驱动器的市场主要由各种消费者产品来推动，大至平面电视和计算机屏幕，小至行动电话等产品。消费者对这些产品的质量、复杂度等要求越来越高，因此用来测试这些产品驱动IC的方法也必须越来越好。抱着这样的想法，我们与 LCD 驱动器技术中具备领导地位的奇景光电合作，以帮助我们开发 D750Ex 高密度架构，找出这个市场中最重要的测试方法。」

Rose 继续说明：「LCD 驱动器市场对于成本相当敏感，我们打造 D750Ex 的时候，将 J750 的成本优势与明显的特色都延续下来了，如体积小、产能大、拥有成本低等等。我们还扩张了 D750Ex 的脚端密度与设定弹性，让我们得以提供 LCD 驱动器IC 制造商更具成本效益的解决方案，将他们的成功更往上推进一步。」