边界扫描在带DSP芯片数字电路板测试中的应用

结果分析如下：当HSDAT0-7送入全"1"时响应信号与预期响应不一致，说明D33的B到A功能可能存在故障；采集响应与输出测量值一致，表明采集程序没有问题。这表明本文采用的方法可以检测D33的B到A的功能故障。

b)验证第2种情况：即SN54LS245的工作状态应为A到B，所以控制引脚DIR为高，则D36A的BS信号为低和H_DIR信号应为高。

由ScanWorks建立Macro测试，加载测试激励输出程序并编译执行，D33所产生的响应向量由数字I／O模块捕获，由TestVee读出I／O通道中的响应信号。实验情况见表2。

结果分析如下：当DAT0-7送入全"1"时响应信号与预期响应不一致，说明D33的A到B功能可能存在故障；采集响应与输入测量值不一致，可以确认的D33的A、B两端数据不一致，A到B功能存在故障问题。虽然激励向量与输入测量值不一致，但不能确认测试程序是否完成实际功能。对测试激励输出程序进行补偿验证，以被测板中与D33相邻、型号相同、连接状况相同、只有网络名不同的D34为测试对象进行A到B的功能测试，验证结果表明D34的A到B功能正常，说明测试激励输出程序没有问题。这表明本文采用的方法可以检测D33的A到B的功能故障。

4结束语

经过测试验证表明，应用边界扫描技术的功能测试方法，能够解决带DSP芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试难题。这种方法可以有效地进行故障检测，将故障隔离到芯片。由于是利用DSP芯片的边界扫描功能，所以这种方法可以扩展到形成边界扫描链的数字电路板，应用边界扫描技术进行功能测试还有很大的发展空间。