NAND Flash上均匀损耗与掉电恢复在线测试

模拟文件。
指明要模拟的NAND器件的大小(FILE_SIZE_IN_MEG)和结构(BLOCKS_PER_MEG，BLOCK_SIZE)后，按照相应的大小和结构生成文件g_filedisk。

3 均匀损耗测试
3．1 测试目的
NAND Flash器件每个Block区块的擦写次数有限。在需要实时记录的应用环境中，为保证器件寿命，应尽量使每个区块的擦写次数相对平均．以最大程度地延长NAND Flash器件的使用寿命。此项测试记录每个Block区块的擦写次数，以测试YAFFS文件系统在均匀损耗方面的性能。
3．2 测试方法
测试代码在器件模拟文件的每一页的Spare区后，增加了字节，用于记录该页的擦写次数。由于擦写是以Block为单位进行的，因此每个Block各页的擦写记录数是相同的。在以后的测试中,可以只使用第一页的该Block空间记录擦写次数，其他空间作其他测试用。
测试代码插入到CheckInit()和yaffs_FEEraseBlockInNAND()(yaffs_fileem．cpp)中，在初始化器件模拟文件时,生成(新模拟文件)或读取(己有模拟文件)擦写次数；并在程序执行擦写函数时，对擦写次数进行累加和保存。
测试程序甩到的测试变量；记录擦写次数的数组-g_ersNumArray[FILE_SIZE_IN_MEG*BLOCKS_PER_MEG]、指向擦写的最大值-g_pErsMax和指向擦写的最小值-g_pErsMin。
测试程序用WireOut0．log和WireOutl．log两个文件记录每个Block区块的擦写次数，查看这两个文件，可以看到每个区块的擦写次数以及最大／最小值。两个文件是等同的，因测试时间比较长，取两个文件以避免系统在写记录文件时出错，而丢失所有的记录；两个文件轮流写，保证至少有一个文件的内容是系统出错前最近的记录。
3.3 测试结果
YAFFS文件系统按"顺序"使用未分配的空间用于新的写入操作，并以同样"顺序"擦除废弃的区块。写入和擦除操作，均按顺序在未分配的空间或废弃的空间中进行。当系统未用空间小于某一预设值后，系统将对存在废弃页的区块进行回收。这种写入和擦除策略在一定程度上保证了损耗的均匀性。
这种机制虽然在一定程度上满足均匀损耗的要求，但还是存在问题，并不适用于所有的嵌入式应用环境。假设在一块16MB的NAND器件上，有10MB空间用来存放相对固定、不经常修改的数据文件，则经常修改的文件只能在剩下的6 MB空间上重复擦写，在这6 MB空间上做到"均匀损耗"。对整个器件来说，系统并没有合适的搬移策略对固定文件进行搬移，整个器件做不到均匀损耗。在实时记录信息量比较大的应用环境中，应编写相应的搬移策略函数，对固定文件进行定期的搬移，以确保整个NAND器件的均匀损耗。

4 掉电恢复性能测试
4.1 测试目的
文件系统应能保证在系统突然断电的情况下，最大限度地恢复(保护)有用数据。如果在修改一个文件时掉电，那么掉电后的文件保护方式根据实际情况可分为3种：
①用旧文件完全代替新写文件，新写文件(没写完)被忽略。这种保护方式应用比较多，比如在更新设置时掉电，使用掉电前的设置，用户是可以接受的。
②用新文件完全代替旧文件(新文件写了多少就保留多少)。这种保护方式适合应用于文本的情况，比如短信。新短信虽然不完整，但根据情况用户可以得到部分信息，如果发送方信息完整或属于可猜测的情况，则可以要求发送方重发。
③己写部分用新文件，未写部分用老文件，所谓"新加旧"的保护方式。这种保护方式可以应用在动态更新的文件上。但是，对于使用偏移量进行的文件读写操作，采用这种保护方式，会产生乱码。
4．2 测试方法
测试代码随机产生掉电消息，模拟一次掉电行为。测试代码插入到yaffs_FEWriteChunkToNAND()(yaffs_fileem．cpp)中，在写Data区和Spare区时分别产生随机掉电位置，模拟掉电行为。掉电后，程序重新挂接文件系统，并读取掉电时正在更新的文件，与原文件相比给出判定结果。
程序用到的测试变量：掉电类别-g_tstPowerOff，1为Data区掉电，2为Spare区掉电。在完全模拟时，掉电类别随机产生。程序用TestLog．log记录掉电后判定的结果。TestLog．log为增加方式打开，新记录写在最后，不影响原有的记录结果。
4．3 测试手段
模拟一次"掉电"行为，需要进行特殊的处理。实际的掉电行为在电源重新供给后，整个系统会重新开始，包括重薪启动文件系统。掉电前系统的所有参数、系统堆栈以及现场均失效。在测试中模拟掉电行为有一定的难度，直接断电既不安全，也不现实，可用exit()函数中止程序来模拟。在执行写操作时，写入随机的字节数后，用exit()函数立即中止程序的运行；再重新启动程序，读取掉电时写入的文件，分析文件以