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基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案

时间:08-12 来源:mwrf 点击:

。具体的数据格式如表2所示。

表2 ACK/NACK编码格式(LSB)

比特位0123456789
ACK0100000101
NACK 0000000101

3 测试结果

按照测试结构图搭建好测试系统并配置软件平台,启动基站及PXB或N5182B/72B,同时在示波器和基站控制端观察测试结果。

图6  PXB或N5182B/72B实时响应

图6为示波器上观察到的PXB或N5182B/72B实时响应。通道1、2、3和4分别为上行信号帧头、ACK/NACK指令序列、上行信号I/Q数据以及PXB或N5182B/72B的ACK/NACK响应(高电平为ACK,低电平为NACK)。如图所示,HARQ时序响应与标准协议完全相符。

基站端对上行射频信号进行分集接收并解调,然后通过CRC校验对接收结果作出判断,最后得到在特定衰落模型下的系统吞吐率。

根据3GPP TS 36.141规定,选取PUSCH,20MHz带宽信号作为测试案例。在2根接收天线,Normal CP下,按照列出的前10个Case依次测试,结果如下:

表3 PUSCH,20MHz 带宽下PUSCH性能测试结果

Case12345678910
标准值(%)30707070307030707030
实测值(%)35818071468442857331

4 结论

结果表明,系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见,结果显示直观可信。同时,该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下,仅仅通过软件配置即可实现1×2,2×2,2×4及4×2的MIMO配置,从而实现基站HARQ,Timing Adjustment以及PUCCH性能测试,是TD-LTE基站性能测试的理想平台。

推荐方案:安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪N5106A PXB配合信号发生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整体解决方案;如果测试系统已有专用信道仿真器,则可使用安捷伦信号发生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最终测试。

作者:张勤、白瑛、张永慧,安捷伦科技

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