使用ATE高效测量射频到基带噪声指数

状况使用。

实验数据显示，在批量生产时，测量射频到基带组件的最佳选择非冷噪声方法或使用具任意波形发生能力之噪声源的Y系数方法莫属。两者不论在稳定一致性、弹性、测量关联性、以及测试时间上，都能提供最佳的组合。

作者：Joe Kelly/Craig Kanetake/Vivek Verma，Verigy Ltd