改进高速射频元件的生产测试方法
时间：04-29
来源：微波射频社区
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图5：对比数据比较了试验台以及自动测试设备系统中测量得到的ACR数据。
由于准确地复制试验台上的测试设置、使用相同的激励信号，并测量应用所使用的相同带宽下的信号输出，才能取得该结果。这种方法捕捉到了我们在试验台上看到的从相位噪声至镜频抑制的所有影响。通过使用相同的调制技术，并在收到带外信号的同时测量带内功率，就有可能取得与试验台ACR测试结果相一致的关联性。
作者：Peter Sarson，奥地利微电子测试开发经理