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实时频谱分析仪RF视图功能 应对跳频软件无线电挑战

时间:03-05 来源:微波射频社区 点击:

昂。系统故障的部分主要原因为DSP、RF电路和控制软件,验证除错工具能够为系统设计人员提供很大的帮助,使其有效地发现问题。 

一旦找出错误,就须予以隔离和了解。为隔离问题和判定其根源,回溯信号路径以建立时间关联的错误非常重要,由于在SDR设计中信号信息的形式会改变,即从数字位变成连续变量的模拟电压,因此可能需要几件测试设备以诊断确切的问题来源。既然问题可能发生在信号路径中的任何一点,而且示波器和逻辑分析仪的内存容量有限,所以同时触发多个测试仪器并获取事件发生瞬间的能力,就显得极为重要。要做到这一点,每一台仪器都必须能在其领域中进行触发,如逻辑分析仪进行数字触发、示波器进行时域振幅触发、频谱分析仪则进行频域触发等。

包含实时频谱分析仪(RTSA)、任意波形发生器(AWG)、示波器和逻辑分析仪的整合点对点测试系统皆是理想的SDR测试工具。由测试与测量厂商挑选出的仪器,能利用交互触发和时间关联子系统视图一致地运作,以验证SDR性能,并在物理层和各种软件层执行多个测试程序,这些测试系统也可以用来了解频域和时域中SDR子系统之间的复杂互动,特别是突波信号(Burst)或跳频的信号。 

进行过滤和放大时,软件异常可能会在RF输出上造成暂时的RF能量脉冲。为了隔离软件和硬件性能,可以使用RTSA对频域中的瞬时进行触发、将事件获取到内存中,并驱动其他测试仪器以探测可能的错误来源。获取到的信号会以时间关联的方式表示,协助设计人员了解SDR的数字与模拟区块中的异常,如何以脉冲噪声的方式传播至RF输出。 

这些RTSA从频谱瞬时中找出问题的独特能力,可用来触发其他仪器,并取得差异极大之硬件与软件功能实作的时间关联视图,如RTSA可在信号路径的RF和中频(IF)部分获取信号,而逻辑分析仪可以获取数字基带信号,并将其与RTSA产生的符号表(Symbol Table)互相比较,不仅如此,某些RTSA还提供脱机软件,可用来分析从逻辑分析仪和示波器获得的数据,以进行硬件和软件的测量修正。 

验证基带IQ波形质量相当重要 

验证基带IQ波形质量对于系统工程师和现场可编程逻辑门阵列(FPGA)设计人员都很重要。其可协助工程师测试基带在开发的初期阶段确认其功能是否正常,因为许多和数字电路有关的问题都出现在FPGA设计中。 

实际设计和应用中的基带信号为差分信号(I+、I-、Q+和Q-),并可能有DC偏移,以前能够直接测试IQ信号的频谱分析仪非常少,能测试带有DC偏移之IQ信号的频谱分析仪就更少,因此工程师不得不使用示波器搭配额外的软件,以进行后续分析。  

选择RTSA使工程师能使用差动输入进行基带IQ测试,可在分析IQ、IF和RF信号时提供测量的一致性,使用RTSA测试IQ信号还可减少系统的复杂性、简化测试程序,同时提供比一般用途仪器更高的动态范围和更大的内存深度。

现代的RTSA集基带、RF和后续分析功能于一身,如RTSA能以14位的模拟数字转换器(ADC),执行DC基带测量,确保测量的准确性。其中有些还拥有差动IQ输入功能,使工程师能将RTSA直接连接至基带IQ信号,以进行误差向量振幅(EVM)分析,且毋需任何额外的差动探棒组。除了EVM,这些RTSA还提供横跨多个领域的完全时间关联测量,包括时域、频域、调变域和星状图,这项功能在为跳频SDR进行疑难排除时极为重要。 

Live RF频谱视图清楚呈现跳频信号频率状态 

频率平复时间的定义为两个跳频频率之间的时间长度,这是跳频系统效率的主要来源之一,频率平复时间越短,系统的跳频速度就可以越快,测量频率平复时间可以确保合成器在最佳状况下运作,并将整体的系统性能最大化。

传统的频率平复时间测量方式受限于仪器,而且非常耗时,工程师必须依靠示波器和频率鉴别器进行测试,且只会显示信号包络和约略的信号稳定性。虽然示波器拥有极佳的时序分辨率,但是使用其测量细微的频率变化可能是一大挑战(视测量所需的频率分辨率而定),示波器无法自动测量跳频的频率,也只能估计频率平复时间。

新开发的RTSA提供自动化的频率平复时间测量,工程师只要设定频率平复临界值和平滑系数等参数,就可以迅速准确地测量跳频信号的频率平复时间,也可以看到跳频时的频谱变化。除跨越多个领域的时间关联测量,有些RTSA还能够产生频谱的Live RF视图(图3),并提供频罩触发(FMT),这些独特的功能更有效地简化了跳频信号的疑难排除,使测量变得轻松(图4)。

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图3 RTSA的数字荧光显示器和频罩触发有助于迅速辨识、获取和疑难排除跳频信号。

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图4利用频谱图(左上)、频率对振幅(右上)、信号调变质

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