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CDMA 1X基站射频性能测试

时间:01-22 来源:mwrf 点击:

(包括衰减值、放大倍数和噪声系数)。

4、前向功率控制子信道

反向功率控制在CDMA 1X系统中非常重要,因为反向是依靠准正交码区分的,用户之间存在相互干扰,只有保证到达基站的各用户间的功率一致,才能保证用户容量和质量。反向功控包括开环功控和闭环功控,开环功控目的是防止远近效应,闭环功控目的是防止快衰落。

前向功率控制子信道测试是测试基站在闭环功率控制时在前向功率控制子信道上发送的功率控制比特的灵敏性、位置、延迟和振幅的正确性。它对于时间的要求非常严格,需要触发信号,用一逻辑信号发生器按照要求同时控制衰减器和功率控制比特的统计或触发示波器。也可用频谱仪零扫频代替示波器,这时频谱仪的RBW要至少设置为2MHz。无论是示波器还是频谱仪,扫描时间和幅度显示标尺设置要适宜,扫描时间应设置为1.25毫秒/Div(每屏10个Div),幅度显示标尺设置为功率控制步长/Div(每屏10个Div),一般为1dB/Div。

5、接入信道接入试探捕获

此项指标直接影响CDMA 1X网络的接通率。

接入试探捕获测试的关键在于接入信道Eb/N0设置和接入试探成功率的统计。接入试探是以脉冲序列发送的,要测试脉冲功率,而非平均功率,因此不能用功率计或频谱仪信道功率方式测试接入信道功率,可用频谱仪零扫频方式测试,RBW大于2MHz。通过公式Eb/N0=C-N-10lg(4800)+10lg(1228800)计算Eb/N0,其中C为测得的接入试探脉冲功率,N为噪声功率,4800为接入信道数据速率。调整衰减器使得基站天线连接口的Eb/N0满足要求。必须注意接入试探成功率不等于呼叫成功率,一次成功呼叫可能含1~多次接入试探,但仅有一次接入试探成功。可以用频谱仪零扫频方式,发起呼叫与单次扫描相配合统计接入试探总数和成功次数,但这样测试效率很低。也可用高通公司CAIT软件统计接入试探总数和成功次数,测试和统计基本自动进行,仅需昀后做一次计算即可。目前也有用仪表代替手机发送接入试探信号,在基站侧通过解调接入试探统计接入试探成功率。

6、接收机灵敏度、接收机动态范围、单频抗扰、互调杂散响应衰减、邻道选择性、加性高斯白噪声条件下反向业务信道的解调性能、多径衰落条件下反向业务信道的解调性能

这些指标是指基站在不同条件下(包括无干扰信号条件下和有干扰信号(CW信号、CDMA 1X信号或AWGN信号)条件下)反向业务信道解调性能,反应的是基站的灵敏度、动态范围和抗干扰性能,这些指标的好坏同样直接影响CDMA 1X网络的话音质量和掉话率等。

加性高斯白噪声条件下反向业务信道的解调性能和多径衰落条件下反向业务信道的解调性能测试(见图2)关键在于Eb/N0设置。在加性高斯白噪声条件下反向业务信道的解调性能和多径衰落条件下无闭环功率控制反向业务信道的解调性能测试中,Eb/N0设置与接入信道Eb/N0设置类似,通过调整C(有用信号功率)和N(噪声功率)达到所要求的Eb/N0,需要特别指出无线配置1和无线配置2的1/2速率、1/4速率和1/8速率的占空比不是100%,分别为50%、25%和12.5%,它们的有用信号功率C不能用功率计或频谱仪信道功率方式测量,可用频谱仪零扫频方式测试,RBW大于2MHz,而其它速率均可用功率计或频谱仪信道功率方式测量,另外要注意在测试无线配置3以上的补充信道的解调性能时,手机的发射功率并不是有用信号功率,而是大于有用信号功率,手机的发射功率包括反向导频信道、反向基本信道和反向补充信道的功率,应通过计算将反向基本信道的功率减去才是有用信号的功率。在多径衰落条件下具有闭环功率控制反向业务信道的解调性能测试中,Eb/N0不能通过改变路径损耗来设置,因为有闭环功控,Eb/N0受基站Eb/N0目标值控制,改变路径损耗,手机的输出功率也会相应改变,使得基站天线连接器处的Eb/N0值不变,因此在此项测试中通过监测基站天线连接器处的Eb/N0,调整基站Eb/N0目标值,使得基站天线连接器处的Eb/N0满足规范要求。在无闭环功控情况下的反向业务信道解调性能测试中还可以用仪表代替手机发送规定的反向数据,测试基站的解调性能。

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图2 多径衰落条件下基站解调性能测试方框图

7、接收信号质量指示

接收信号质量指示测试基站对接收信号测量的准确度。因为基站要根据测得的来自移动台的信号强度形成功率调整指令,通知移动台,使移动台根据此调整指令来调节其发射功率,所以如果基站对接收信号测量不够准确,将直接影响其闭环功率控制的准确性,从而影响CDMA 1X 网络的话音质量和掉话率等。

大多数基站不能直接给出接收信号质量指示(RSQI)值,但具备测试接收信号Eb/N0 的能力,可

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