微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 测试测量 > CDMA2000射频测试简介(一)

CDMA2000射频测试简介(一)

时间:03-09 来源:摩尔实验室 点击:
CDMA2000是其中一种3G移动通信标准,其相关产品进入各国市场均需要进行强制测试。如进入欧盟或相关的地区,其需要满足CE的测试要求,比如中国国内需要做CCC和CTA认证. CDMA2000测试相当复杂,主要的如Conducted spurious emissions(transmitting/not transmitting);Maximum RF output power;Minimum controlled output power等等。

    下面简单介绍一下Conducted spurious emissions when transmitting(处于发射状态的传导杂散)的测试。

    测试意图:在EUT工作的状态下,通过EUT上的天线连接器使用传导方式连接到测试系统上,检测EUT处于发射时的杂散信号。

    测试搭建简图:

测试方法:
1) 用射频线按上图进行功分器(POWER SPLITTER)的连接,并使用信号源和频谱仪(Spectrum Analyzer)测量5515C到EUT和EUT到频谱仪这两条路径的损耗,然后记录损耗值。
2) 测量完损耗后按照简图将EUT与E5515C、频谱仪连接到功分器,把功分器衰减较大的一端接到频谱仪上。
3) 在E5515C上调整信道号和路径损耗的补偿,然后按照下列表格中的参数设置E5515C。

4) EUT与E5515C之间建立呼叫连接,然后将E5515C参数调到all up bits的功率控制模式,使EUT以最大功率输出。
5) 在频谱仪上设置好路径损耗的补偿,然后按照以下表格根据频率分段测试传导杂散,所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值,并记录测得的数据。

6) 然后按照以下表格重新设置E5515C的参数。

7) EUT与E5515C重新建立呼叫连接,把E5515C参数设置为0和1交替的功率控制模式。
8) 按照以下表格重新设置频谱仪,根据频率分段测试传导杂散,所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值,并记录测得的数据。

    以上是对CDMA终端传导杂散测试的简单介绍, 此后我们将分批分期的对其它涉及CDMA部分的射频测试进行一一阐述, 敬请关注。


    如需更多资料,请发信到以下地址:nana.du@morlab.cn或致电:022-24324916

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top