NFC技术介绍及其射频测试方法

时延也可借由频谱分析仪以零跨频进行测量。图22显示由R&S FSV所测之结果。标志M1位于查询信号最后一个??位的上升边缘，差量标志D2位于收听信号的第一个位并显示帧时延(86.28μs)。

图22 借助频谱分析仪R&S FSV进行帧时延测量的实例，差量标志D2测量从查询指令的终止，直到手机在卡仿真模式下发送的起始之响应时间(86.28μs)。

·收听模式下负载调变的测量

如图23所示，NFC之负载调变是13.56MHz查询信号包络的平均最大值与平均最小值之差。图24显示使用示波器及频谱分析仪(如图25)对负载调变的测试。由于频谱分析仪测得信号的均方根值，其示值须乘以系数1.41而得到示波器所示之峰值。

图23 依照NFC论坛的负载调变定义

图24 使用示波器R&S RTO测量负载调变，以两条标志线测量查询信号包络的平均最大值与平均最小值之差(本例为61.1毫伏特(mV))

图25 使用频谱分析仪R&S FSV测量负载调变：在零跨频模式下，两条标志线D1与D2测得最大与最小均值，即负载调变的均方根值=D1与D2之差= 153-110毫伏=43毫伏，而负载调变=43毫伏×1.41 = 60.6毫伏(如上所述)。

作者：Roland Minihold，罗德与施瓦茨公司