LTE发射机设计的复杂测量技术问题详解

都处于同一功率级的单个信道相比，得到的复合信号具有更高的峰均比。放大此类功率增加的信号可能非常困难。功率放大器中没有足够的功率回退（back-off），可能导致限幅。

随后，可以使用在Agilent X系列信号分析仪上运行的Signal Studio软件生成测试信号。生成信号之后，通过LAN或GPIB将波形下载到信号发生器。将信号发生器的射频输出端连接到信号分析仪的射频输入端，使用扫描频谱分析测量ACLR性能。在此例中，信号分析仪处于LTE模式，中心频率为2.11GHz，选择了ACP测量。随后，通过从LTE应用程序中的一系列可用选项中（例如成对或非成对频谱、邻近信道和相间信道中的载波类型等选项），调用适当的参数和测试限制，根据LTE标准进行快速一键式ACLR测量。

对于FDD测量，LTE定义了两种ACLR测量方法：一种是在中心频率和偏置频率上使用E-UTRA（LTE）；另一种是在中心频率上使用LTE，在邻近和相间的偏置频率上使用UTRA（WCDMA）。图2显示了E-UTRA邻近和相间频偏信道的ACLR测量结果。对于此次测量，选择5MHz载波，由于下行链路有301个子载波，所以测量噪声带宽为4.515MHz.

图2：此处显示的是使用安捷伦X系列分析仪获得的ACLR测量结果。第一个频偏（A）位于5MHz处，集成带宽为4.515MHz.另一个频偏（B）位于10MHz处，具有相同的集成带宽。

优化分析仪设置

虽然上述的一键式测量提供了非常快速、易用、依据LTE标准的ACLR测量，但是工程师仍然可以对信号分析仪设置进行优化，获得更出色的性能。有四种方法可以优化分析仪，进一步改善测量结果：

*  优化混频器上的信号电平――优化输入混频器上的信号电平要求对衰减器进行调整，实现最小的限幅。有些分析仪能够根据当前测得的信号值自动选择衰减值。这为实现最佳的测量范围奠定了良好的基础。其它分析仪（例如X系列信号分析仪）拥有电子和机械衰减器，可以结合使用两者来优化性能。在这些情况下，机械衰减器只需进行细微的调整变得获得更出色的的结果，步进大约为1或2dB。

*  更改分辨带宽滤波器――按下分析仪的带宽滤波器键，可降低分辨率带宽。注：由于分辨率带宽降低，所以扫描时间会增加。扫描速度的降低，可以减少测量结果和测量速度的变化。

*  启动噪声校正――一旦启动噪声校正功能，分析仪将会进行一次扫描，以测量当前中心频率的内部本底噪声，并将在以后进行的扫描中从测量结果中减去该内部本底噪声。这种方法能够显著改善ACLR，有时改善幅度高达5dB。

*  采用另一种测量方法。除了使用默认的测量方法（集成带宽或IBW）之外，也可以采用滤波IBW方法。该方法使用了更加陡降的截止滤波器。虽然这种方法会降低功率测量结果的绝对精度，但是对ACLR结果没有不利影响。

通过结合使用这些方法，信号分析仪可以利用其嵌入式LTE应用程序自动优化ACLR测量，实现性能与速度的最佳搭配。对于典型的ACLR测量，测量结果可能改善高达10dB或更多（图3）。如果测量需要最高的性能，那么可以进一步调整分析仪设置。

本文小结

符合标准的频谱测量（例如ACLR）对于射频工程师开发下一代无线系统具有极其重要的作用。然而使用LTE应用软件进行测量时，受多种因素的影响，这些测量非常复杂：邻近信道带宽的变化，发射滤波器的选择，不同带宽和不同干扰灵敏度的信道之间的射频变量的交互。应对这一挑战的实用解决方案是使用安装有特定标准测量应用软件的频谱分析仪或信号分析仪。此组合能够减少复杂测量中的错误，自动配置限制表和指定的测试装置，确保测量具有出色的可重复性。使用分析仪优化技术可以进一步改善测量结果。

图3：此处显示的是使用优化设置后的安捷伦X系列信号分析仪获得的ACLR测量结果。与图2使用嵌入式N9080A LTE测量应用软件获得的结果相比，图3中的ACLR实现了11dB的改善。