射频芯片测试夹具在微波测量中的应用
图六、TRL校准界面
TRL校准向导
如果使用8753ES网分,校准操作如下:
放入校准件THRU选择THEU校准选项;
放入校准件SHORT选择双端口的两个SHORT校准选项;
放入校准件LINE选择LINE校准选项,选BOTH(双端口同时校准)键,频段分段选2-7line;
隔离选项选取忽略。
按下DONE键,仪表通过选取的误差模型计算校准,计算完成后选取FORMAT更改显示模式为SWR,读出THRU或者LINE校准件的驻波读数,判定校准是否准确。一般来说读数在1.00X~1.02X之间波动。如数值过大需重新校准。如果需要测量相位则需测量THRU校准件S21的相位和SHORT校准件S11的相位,两个值应相差180度。下图是一种型号产品校准后的图形。
图七、AFX200校准后数据
3、加电测试
校准完成,放入核心滑块,固定好元器件,通过BIAS TEE 加上直流电压,根据放大管特性可通过调节栅极电压调节漏极电流。注意先加漏极电压避免元件烧毁。
跟据测量需要按MARKER键选取测量点测量所关心的S参数,FORMAT格式可选极坐标或SMITH圆图,改变MARKER位置(测试频率),得到S11、S21、S12、S22在各频率下的模值和相位。
五、测量数据对比以及仿真设计:
AFX100A型功能版1#夹具对安捷伦经典管型ATF54143的两次测量数据以及厂家数据S11、S21在SMITH圆图和极坐标上的位置。
分析:在不同的环境下,放大器的匹配必须通过直接测量获得准确参数,厂家所提供的数据是批生产管型的典型参数。测量结果和厂家提供的参数曲线有一定的区别,这正是使用夹具对场效应管进行测量的原因。
使用测量数据的对放大器进行仿真曲线
使用厂家数据对同一放大器仿真曲线
实际放大器的测量结果:2GHz增益为11.5dB,2.5GHz增益为8.4dB。测试的数据计算结果比厂家提供的数据计算结果更接近实际的测试曲线。
- 扩展RF/微波测量的频率范围(02-22)
- 微波测量系统的认识和调整(12-28)
- 微波测量仪器和元件的认识(12-28)
- 微波暗箱反射率电平分析测量(07-27)
- RF矢量信号??分析仪:对微波测量的不佳性能说“不”(03-13)
- 测量等离子体密度的微波标量反射计设计(08-20)