RF WCDMA基准比较测试白皮书

传统仪器），CCDF测量时间可以减少33%。此处，你可以看到NI 8353 四核机架式控制器可以达到最高的测量速度。

对于处理器密集型的物理层测量来说，选择不同的处理器对总体的测量时间影响很大。在图7至9中，可以看到传统仪器和PXI仪器在测量时间和平均次数之间的关系。

图7. 在处理器密集型的测量中，PXI仪器可以体现最大的速度优势。

对于诸如EVM测量这样的处理器密集型应用来说，选择不同的处理器对总体的测量时间影响很大。例如，一个EVM测量如果设定为对五个点进行平均值运算，若使用PXIe-8130嵌入式双核控制器需要342毫秒，若使用NI 8353四核控制器则所需时间缩减33%，只需要228毫秒。在相邻通道泄漏比率(Adjacent channel leakage ratio, ACLR)测量中也可看到类似的结果，如图8所示。

图8. 在ACLR测量中，测量时间与平均次数的关系。

在ACLR测量中，使用PXI RF测量系统可以比传统仪器快16倍。对于一个ACLR测量（不考虑配置所需时间）来说，典型的测试时间不超过8毫秒，这比常规的时域 ACLR测量时间还短。图9所示为最后一项测量结果，即为占用带宽的测量。

图9. 在占用带宽的测量中，使用PXI仪器可以比传统仪器快30倍。

在图9中你可以看到，对于一些测量来说，在达到相同的测量结果时，PXI RF仪器可以比传统仪器快30倍。此外，在一些需要更多的平均次数的测量中，PXI仪器在绝对的测量时间上的优势更为显著。

测量值平均运算与重复性

虽然平均运算对整体的测量时间影响较大，但是仍需要通过平均运算以实现可重复的测量结果。由于测量值平均运算事实上增大了总体的测量时间，所以弄清平均运算次数与重复性精度之间的关系非常重要。因为可以通过平均来降低信号中的一些噪声，你可以看到：随着平均次数的增加，连续运行的重复性精度提高。图10中所示， 在不同的平均值次数的配置下的EVM标准差。

图10. 在不同的平均运算次数情况下的EVM标准差。

如图10所示,所有的EVM测量都是针对一个WCDMA帧内进行，相当于2600 chip。请观察测量重复性精度与平均次数的关系。在图10所示结果中仅仅使用了1000组数据，而对于大多数产品测试应用来说，通常需要更大的数据集。事实上，许多测试都是使用多个仪器，因此需要一个更精确的模型，以表征测量重复性。

使用PXIe-5663 RF 矢量信号分析仪和PXIe-5673 矢量信号发生器，你可以很容易地实现优于1%的EVM测量。表3所示为更重配置下实现的均值和标准差。

表3. 在不同的平均次数的情况下的EVM和标准差。

NI 5663 RF矢量信号分析仪和PXIe-5673 RF信号发生器可以对WCDMA标准实现精准的、可重复的EVM测量。

结论

随着无线通信技术的使用越来越广泛，减少其测量时间所需的难度越来越大。幸运的是，PXI测量系统可以利用计算领域的最新技术。事实上，如本文中的数据所示，执行于多核PXI处理器上的并行的测量算法比传统仪器上的类似算法有显著的速度优势。因此，借助于National Instruments新推出的PXI 6.6 GHz RF测量平台，你可以在应对RF测试中的新挑战的同时降低测试成本。