关于采样电阻的问题，虽然觉得简单，但还是想请教下大家，也好确认一下

如图所示，采样电阻Ry两端接入电压跟随器进行采样。VCC和GND  和  +5、G是隔离开的，不存在回路。低压端输出接到+2.5电压,AIN1、AIN2、AIN3、AIN4为AD输入端口，其中AIN1、AIN2一对，AIN3、AIN4一对。通过AD的输出应该就可以测出Ry两端的电压。本人想请教的是，这种采样方式是差分采样吗?如果是的话，采样地应该是+2.5还是G呢?感谢各位能给予指导！

我觉得，对AD采样芯片而言，应该用“G”做参考。+2.5V是公共参考端。
而这个输入方式，不能算差分方式，两个运放起到的就是隔离抑制VCC和GND的共模噪声作用。（因为差分特性就是高共模抑制，所以整个系统有些差分的影子。）
相对与G
AIN1 范围应该是    0<AIN1<VCC
AIN4  范围应该是    0+(+2.5)<AIN1<+5V
芯片里面的计算方式应该是：
(AIN1+2.5-AIN2)-(AIN4-AIN3)，如此得到的就是采样电阻的电压
因为AD口一般只能采样“正电压"，AIN4加了上拉电阻，必然会引入上拉电源的干扰，而+5V系统的电源波动又是一个共模干扰，所以在AIN1引入AIN2目的也是来以AIN2或AIN3作为一个公共参考端，判断是否有电源波动！
假设，GND端引入干扰A，+5V端引入干扰B
上公式变为 (IN1+A+2.5-AIN2)-(IN4+A+2.5+B-AIN3)   因为AIN3=AIN2
          变为 IN1-IN4+B

主要是采样参考电压。用哪个参考去采样，哪个就是地。

按照您的讲解，我能理解为此电路的采样地就是+2.5V吗?

你好，看了你给的回复跟我的理解有很多共同点，另外比我考虑到的要周全许多。对于提到的引入干扰这块我会着重去体会，对于输入范围也会多加验证。非常感谢！