ADC动态性能测试问题

我最近在做一个SAR ADC，现在对栅压自举开关进行动态性能仿真，对采样数据做FFT，然后得到SNR、ENOB等信息，在做FFT时发现一个问题，采样点为128个时得到ENOB为11bit，但是当采样点为1024时，ENOB只有3.4，想请问一下这是为什么，采样个数和有效位是什么关系?

求各位大神帮忙解释一下，我刚接触ADC设计，有很多不懂的地方

要相关采样

要么相关采样，要么加窗。

多看书，多看资料。推荐去maxiam官网上搜ADC dynamic performace test的文章。

谢谢，问题已经解决了

虽然感觉你的问题大概率是非相关采样导致频谱泄露导致；
但是有了问题上论坛发帖，问题解决了也不在本帖说明闭环，这样真的好吗?

不好意思啊，一忙起来就不怎么逛论坛了，谢谢您的回答，也谢谢您指出我的问题，以后会改正的