请问如何在spectre里测量ADC的INL和DNL

我在cadence里做了一个SAR ADC的schematic，但不知道怎么模拟INL和DNL。求教！

EE247的课件

ahdlLib里面貌似有个代码能做这个的，不过我没试验过。

应该要按照FFT分析的要求采出数据，在MATLAB里算吧

请问是怎么算呢?为什么要用FFT?INL和DNL不是应该用transient来测吗?

同问,keromulus"请问是怎么算呢?为什么要用FFT?INL和DNL不是应该用transient来测吗?"

fft（SNR）得到的是动态指标，无法得到INL，DNL

ADC的INL和DNL仿真是通过瞬态来实现，加一个斜坡电压，全扫描，处理数据就行了

我都用理想DA和设计DAtrans里跑的数据在MATLAB里处理~

求此课件~

这问题和我问的一样，顶一顶。

同问此问题~

在瞬态下仿大量数据，然后在matlab里用码密度直方图的方法测量INL和DNL。matlab的文件要自己编写，基本原理是统计各个数据出现的频次

请教下数据改如何处理

用直方图处理，需要的数据量很大的，在实际测试时，可能需要的数据量在百万级。这需要spectre仿真多长时间才能行啊。

请问如何处理数据

怎么处理数据啊?

这个问题又石沉大海了！

1.仿真用斜波：输入一个缓慢变化的斜波，如果10个数据输出周期模拟值变化VFS/2^N，可以认为精度为0.1LSB。
2. 测量时候不可能测所有斜波，分段测几个部分，看个大概趋势。最小值附近，最小值和中间值附近，中间值附近，中间值和最大值附近，最大值附近都跑几百个点，挂几台机子上跑。这个主要看DNL。
3. INL通过测量FFT的斜波HD的值，反推大致多少。
4. 你做ADC系统方案时候，都会有个simulink模型，里面包含了ADC的各种影响，噪声，失调，电容失配，你把仿真电路用ADE测出来的噪声，蒙特卡洛跑出来的失调，等都加入模型中，用这个预测INL，DNL或者动态其实比电路仿真的准。电路里面加tran noise跑太慢，无论是动态还是静态。不加tran noise的基本上只能判断出你运放的建立和增益等问题。

PPT为2013年stanford的EE315B，第三章里面。
我也是坛子里下的。为避免赚积分嫌疑，自己在坛子里面下吧。

O(∩_∩)O谢谢