求助：CAPLESS LDO 的IP测试问题

设计了一个CAPLESS LDO 的IP，仿真结果表明外接能承受最大20P的负载，由于将输出极点作为次主极点，因此外接电容大了以后，次主极点向带宽内移动，导致大于20P以后输出出现振荡。
本来小于20P的负载也是满足设计要求的。但是由于我做的是IP，需要流片会来单独外加示波器测，而示波器探头带有几十P甚至上百P的寄生电容，因此如果用示波器测量的话输出必然振荡了。
各位大侠有没有什么法子解决这个问题呢?或者怎么隔离掉这个示波器的探头上的寄生影响呢?不甚赐教！

如果这种寄生参数不考虑进去
那做capless LDO 也没用了。
封装，应用时存在各种寄生。要考虑全一点。

在输出加个buffer就行了。

20P 负载 就振荡的LDO 没必要测试了，没有啥价值

Capless 实际要求是负载从几P~1u都能稳定才是好的

20p确实小了点，怎么也要保证nF级别的负载电容稳定性。楼上说在1uF的capless都能稳定，可不可以给介绍一下做法，谢啦。

我很奇怪，为什么你的LDO,>20p就不稳定了，不知道你的架构如何，但是输出几点移动在LDO设计中是不可避免的，要有适当的补偿电路才能完成设计

20pf，太小了

capless 至少0-100或者200p没问题才行。

OK,谢谢大家，当初为了追求大带宽，所以做小了，现在做到了可带载300P

Hmm...

how lager the load capacitance isfor capless LDO of digital circuit?

Let me see this

带载20mA?

用有源差分探头

CAPLESS的负载一般要设计到200p吗?

小编我也遇到类似的问题，SOC中的capless LDO负载电容为40p,用探针测试时会振荡，小编后来怎么测试的，能告诉我下吗，谢谢小编了！

1uF cap loading for capless LDO? It seems not possible.

zaznazanzan