弱弱问个问题：关于低速ADC的动态特性

看到ADC测试的一个定义“动态测试用于决定描绘ADC性能与时间有关的参数。这种类型的测试主要研究输入信号在高频时的转换测试。”请问各位如果设计低速ADC（几十K），需不需要研究其ADC动态性能?

我想应该不需要的。
采样频率低的时候，主要关注线性度，也就是static characteristic，比如音频处理。（个人理解）

当然需要测。
低频高频只是相当于时钟来说。
一个1GHz ADC, 50MHz input signal 基本上可以看作DC
audio 产品也要看THD，这个只能看动态特性

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我有点怀疑，如果adc是1Gs/s，input freq会这么低吗?
你是否可以举个例子。

dynamic test is for thd and snr, if you care distortion, then you should run dynamic test, if you only care for step response, then not.

Hard disk read channel, a few 10Mhz to a few 100MHz
10G-BaseT

虽然音频的频率比较低，但是在实际应用中，对其采样的时钟还是比较高的。

是啊，小编现在清楚了吗?我刚入门，在做超低功耗的，1KS/s的采样率，不知道如何取点数，做动态参数分析，这个是不是取得数字只能小于1000呢