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看到TI的LDO芯片采用折返式电流限制功能,查资料说有可能出现闩锁效应?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
看到TI的LDO芯片采用折返式电流限制电路,查了资料说有可能导致寄生的闩锁效应,论坛里面的哥哥姐姐,大神们,谁能帮我解答一下,怎么就引起闩锁效应呢,感兴趣的也来讨论一下

自己顶一下!

有点摸不着头脑,看到你说的结果我觉得跟电流折返都没关系,不知从何说起,资料怎么说的

没schematic或示意图,只能纯想象

maybe deadlocked at some unwanted state and may be not able to startup.

谢谢回复。资料上说,限流折返曲线和负载电流曲线有可能相交,然后由于负载的非线性,可能存在功率管提供不了负载需求电流的情况,从而引起寄生的闩锁效应,,好几篇资料都有提到这个问题,建议说折返曲线的斜率不能太小,或采用其他的办法等。想了很久也不太懂这个问题。隐约记得闩锁效应是由于MOS管寄生的BJT管导通,引起大的衬底电流,然而并建立不起来联系呀,,,

之前没有发示意图,这里发一张示意图,谢谢大家的关注

后面补发了一张图,谢谢回复。

不懂。能给我讲讲吗,谢谢了

不懂,看图的意思就是随着VOUT的下降,进入cc,电流反折力度不能太大(电流不能减太小)。没看懂与latch up的关系,看看文章的前因后果啦!

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