微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微波和射频技术 > RFIC设计学习交流 > 关于STI的问题

关于STI的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
我们知道工艺里面,打WELL之前先要做STI隔离。那么问题就来了,STI挖洞的时候,是用哪一道MASK呢?这样要单独给一道MASK吗?还是用哪道MASK计算一下来得到啊?
最近脑子有点痒,想把一些问题搞清楚一点,不好意思烦劳大家了。
可以都来讨论一下。

我自己的理解,不知道对不对。
STI区域就是OXIDE区域取反运算得到的?

STI跟WEll没有关系,是od mask 的反板,不需要额外的mask

谢谢回复!还有一个问题,也没搞太明白。
举个例子,在TSMC 0.35UM的工艺中,有两种器件3V和5V的MOS,thin OX和thick OX分别对应的MASK是OD和OD2.看他们的design rule, OD和OD2 的tone都是dark.
CMOS的工艺一般是这样,先整个active区生长一定厚度的OX,然后将3V的区域的OX全部去除,再一起回炉长OX的到目标值。
我的问题是,既然OD 和OD2都是dark的,也就是不透光的区域,那么长OX的时候,中间步骤是要把OD的区域定义出来蚀刻掉的,按道理又应该是透光的啊?应该是clear才对?
简而言之一句话,OD和OD2为什么是dark的,不是clear?

上面的问题,体现在版图上就是,3V和5V的MOS,分别花了OD和OD2 layer.从这个角度讲,好像也应该是clear的。
这个问题困惑了

要搞明白的是制程第一步就是用 od mask来确定 active 区域和sti 区域,不是active od的区域都是要做sti的。所以第一步光照就是把od 区域盖住,把剩下的silicon挖掉,回填sio2做出sti。

thanks for sharing

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top