问一下op amp testing的问题

小弟新近设计了一个二级放大器，100dB的增益，50MHz的带宽，1E8V/s的摆率， 常见的结构，第一级telescopic,第二级共源输入，全差分结构。
这个只是课程设计，所以没什么新的idea,大家不要见笑。
使用的AMI0.6的技术流的片，DIP40封装。
回来之后在面包板上测试，发现不少指标达不到要求，当然这个也在意料之中。
我的GB测出来只有5MHz,simulation时是60MHz, slew rate 只有设计时的10% (1E7 out of 1E8)。
我自已分析一下，设计时的负载是2pF的容性负载。
我不是很清楚这些外围电路的寄生电容，比pad,　面包板，示波器的输入。这些在我设计时考虑的最少的东西，现在却最让我头大。
不知道这些寄生电容加起来会有多大，这些东西加起来是不是对测试造成了致命的影响?
我是不是要加一个在输出上加一个buffer?当然我的信号发生器输入方波的slew rate也只有1E8,
大虾能点拔一下我的主要问题在哪儿吗?
在片子已经拿回来的情况下，怎么测才能测到更准确的performance呢?
先行谢过了。

在仿真电路上考虑寄生，大概加个10pF吧
看是否和测试结果一样?
另外， 你是用闭环的方法测的这样和开环的仿真结果有差异的

Yes, it is good to add a buffer. Usually the probe you use has capacitance of 7 to 9P, which hurts your GBW.

表笔上有10p的电容，你放一个buff在后面，应该会好些

Usually the probe you use has capacitance of 7 to 9P, which hurts your GBW.

thanks a lot