高速信号完整性分析

对于高速或甚高速的数字信号，在芯片的输出，如何进行ESD防护以及如何进行测试?比如：100M，200M或300M的时钟信号?甚至更高的数字信号?大家有这方面的经验吗?那些做高速ADC或DAC的是怎么来实现的?请教大家一下。谢谢。

对于ADC/DAC 来说，一般追求high performance是不会加ESD diode/clamp之类的，因为parasitic capacitance对于 linearity的影响太大了，通常来说一般的connector像 BNC/SMB 的 signal pin是很难碰到的，所以ESD test也都可以规避，一般ESD test只会触碰外围的shielding.
对于高速信号，很多USB/thunderbolt 有时用到ESD clamp, panasonic有卖非常小的ESD clamp,比0201还要小，所以parasitic capacitance 非常小，应付10G都没有问题，对于你说的几百M应该是不在话下了。当然如果只是几百M，市面上很多ESD clamp应该都可以搞定的。

很多IC内部会有clamping diode，会起到一定的保护作用，但是否能抗ESD就不一定了。总而言之如果追求高性能，ESD防护还是能省则省

up 1G 都有ESD的！

thanks。关键是如何实现的?比如用LVDS?DDR?等。

怎么实现的是什么意思? ESD防护怎么实现的?还是说高速信号传输怎么实现的?
高速信号如果是几百M，LVDS就可以了，现在高速ADC/DAC有一个趋势是high speed serial, 取代陈旧的parallel LVDS, 单独一根线能跑几个Gbps, 这根线一般是CML，当然相应的需要equalization和clock data recovery之类的电路

不知道这是不是你要问的