multi bit CT SDM 中量化器参考电压有波动,这个波动能够等效到量化噪声中去?
时间:10-02
整理:3721RD
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敢问各位大侠,如果multi bit CT SDM 中量化器参考电压有波动,这个波动引起的量化错误能够和量化误差等效不?
不能。应该类似inter-modulation
肯定不行,你得小心处理。
敢问大侠,这个如何定量的去评估呢?
敢问大侠有不有什么好的办法定量去评估?
一般来将,量化器(用电容采样)的参考电压是如何实现的?
如果只是量化器的参考电压变化,应该是可以等效为量化噪声的,或者换句话说,是被环路整形的。只有反馈回去时的参考电平是直接被输入看到的。
我用的是NRZ 的电流镜DAC,反馈不需要参考电压,直接回去参考电流。
现在我的输出SNR又偶次谐波决定,这样看来,并不是量化器参考电压波动引起的?
Behavioral Modelling不太理解你的等效是什么意思。
1. 如果ref干扰是周期信号,怎么能等效成噪声。
2. 如果你是指是否同样有shaping的效果,在量化器上的ref变化,是会被loop filter抑制掉。但是要注意ref上的周期干扰和输入信号,量化噪声之间是互相调制的。
如果是在DAC上ref的周期变化,那么他们也是互相调制的,但是没有loop filter可以抑制。
3. 这些都可以通过行为模型验证。但首先要推导一下频域和时域上的关系。
感谢大侠的回复。
现在通过行为级的模型验证了,量化器上有在fs频率的干扰信号对输出SNR没有影响,已经被环路整形。说明我这里的问题不是来源这里。
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