微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微波和射频技术 > RFIC设计学习交流 > multi bit CT SDM 中量化器参考电压有波动,这个波动能够等效到量化噪声中去?

multi bit CT SDM 中量化器参考电压有波动,这个波动能够等效到量化噪声中去?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
敢问各位大侠,如果multi bit CT SDM 中量化器参考电压有波动,这个波动引起的量化错误能够和量化误差等效不?

不能。应该类似inter-modulation

肯定不行,你得小心处理。

敢问大侠,这个如何定量的去评估呢?

敢问大侠有不有什么好的办法定量去评估?
一般来将,量化器(用电容采样)的参考电压是如何实现的?

如果只是量化器的参考电压变化,应该是可以等效为量化噪声的,或者换句话说,是被环路整形的。只有反馈回去时的参考电平是直接被输入看到的。

我用的是NRZ 的电流镜DAC,反馈不需要参考电压,直接回去参考电流。
现在我的输出SNR又偶次谐波决定,这样看来,并不是量化器参考电压波动引起的?

Behavioral Modelling不太理解你的等效是什么意思。
1. 如果ref干扰是周期信号,怎么能等效成噪声。
2. 如果你是指是否同样有shaping的效果,在量化器上的ref变化,是会被loop filter抑制掉。但是要注意ref上的周期干扰和输入信号,量化噪声之间是互相调制的。
如果是在DAC上ref的周期变化,那么他们也是互相调制的,但是没有loop filter可以抑制。
3. 这些都可以通过行为模型验证。但首先要推导一下频域和时域上的关系。

感谢大侠的回复。
现在通过行为级的模型验证了,量化器上有在fs频率的干扰信号对输出SNR没有影响,已经被环路整形。说明我这里的问题不是来源这里。
正在查找其他原因!

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top