微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微波和射频技术 > RFIC设计学习交流 > 问个转换速率、相位裕度与振荡的问题

问个转换速率、相位裕度与振荡的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
今天在做后仿的时候,发现当电源电压给斜坡上升电压的时候,LDO的输出电压在ss下振荡,其他工艺角正常,原理图仿真各个corner的裕度都是够的,差不多70--80左右,运放用的NMOS输入套筒式,第二级PMOS源跟随,套筒的高输出阻抗可能使源跟随的输出呈现电感特性,坛子里之前有帖子讨论可能是压摆率的问题,但是如果是这个问题是不是应该所有的工艺角都会出现振荡的情况?而且裕度足够的情况下应该是减幅振荡最后会稳定的吧?不明所以。求指教~

SS下震荡是一直有,还是最后消失了?

有图吗?我觉得如果域度有70~80了,应该没有问题!
要么仿真域度的条件不对!因为在不同负载时幅度会有很大的变化

是一直震荡的。LDO放大器的开环裕度是70--80,闭环的裕度没负载的时候是40左右,带负载差不多只有25度左右,是这个原因吗?

25度还是很容易振起来的。

闭环系统仿真应该都要看环路响应的吧。25度确实危险。

我用stb仿环路增益和相位裕度,带负载的时候差不多有40度,不带负载就只剩17度了。看来好像真的是因为这个原因了。

带负载条件下相位裕度仅25°是不够的,很容易震荡

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top