latch-up测试

时间：10-02 整理：3721RD 点击：

我在芯片正常工作时，通断out段的负载，电源的电流有时会增大100mA~300mA，我想请问，通过什么方法可以测到时芯片的那一部分出现异常?现在我推断是在芯片内部产生latch-up，请问有没有方法检测到在什么地方发生?

latch-up
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