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器件的过压问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
CSMC .5um的工艺,手册上5V低压器件NMOS和PMOS的承压能力标注最低为9V,想问下是否说明器件工作在9V以下都是安全的,那为什么给出的测试特性,输出电流能力等都是在5V情况下,如果器件一直工作在接近9V情况下会影响到器件寿命吗?

会有影响的,有可能栅氧可以耐压到9V,但source/drain punchthrough,或者breakdown

不能一直工作的远高于5V而低于9V的电压下,承受电压应该是说期间被击穿的最小电压,是安全工作区的极限情况,最好还是按照5V设计吧

过驱动电压加的时候有一个范围吗,比如说在阈值电压在5V时,那么加的时候得加到多少呢!

9可能没击穿,性能就没保证了

补充一下,栅氧击穿电压最低为15V,如果我只作为驱动管来用,不考虑器件线性的问题呢?
我认为正常工作不会有太大问题,但是是否器件寿命会大打折扣?

寿命肯定有问题。寿命有个计算式的,具体怎么算我不在行,但是温度越高,电压越高,寿命是貌似呈指数下降的。所以一般有个BURN IN测试,在这个条件下测试寿命比较可行,测完了用公式推算正常工作寿命。否则那什么5年10年的工作时间谁受得了。

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