LM5175芯片问题

专家你好！

我们有项目发现LM5175芯片损坏，其输入电源为拖拉机的蓄电池，输出为12V稳压电源。Ti的分析报告如下：

Failed CT in ShDAO
Fault isolation done, hotspot was observed at the diode between SW and boot\\\
Analysis result: EOS damage

从报告来看是芯片SW和BOOT两个pin之间的diode被击穿，原因通常是电气过载。

我们检查了电路，SW连接到功率电感两端，而BOOT的电压直接由LM5175输出，似乎不会出现电气过载的状况，不知能否提供一些分析建议。非常感谢！

Hi

       会的，这个肖特基二极管一般烧掉都是因为电流过大（或是个别较弱的二极管烧掉了），只是这个芯片没有详细的提供计算chargepump电容大小，以及这个肖特基二极管的内容。

       一般峰值电流可能达到好几个安培。

      建议你在设计时候，参照wenench软件，虽然这个软件也没有提供峰值电流计算，但是你可以参照它选择的肖特基二极管规格。

   （找了一下，类似的几个芯片是乎都没有提供算法，只提到峰值电流可达到数个安培。而找到的一些芯片，在二极管前还加了限流电阻，这个就容易计算了。）

Dear Tao,

感谢回复。

我们损坏的3颗芯片经检测，结论如下

Unit #1-3 was submitted to do electrical verification by using curve tracer. Pin continuity fail was observed, no
correlation unit for reference.

(Unit #1: pin 18, 20 short, unit #2: pin 18, 20 short, unit #3: 18, 20 and 26, 28 short)

Optical inspection and X-ray inspection showed no anomaly on return unit.
Unit #1-3 was subjected to electrical verification by using a curve tracer, pin continuity fail was observed.
After decapsulation and deprocessing, the damage as junction punch through was observed.

显示应该是芯片损坏，而不是boot上串联的二极管。我想请教下， 一般什么样的极限环境会造成boot和SW pin脚的损坏呢？

谢谢！

Hi

   boot电容短路吗？ 测试一下是否是这个电容短路？ 芯片内部不容易短路，除非这个驱动完全坏掉。

你好，

这个问题之前遇到过，建议在下管MOS上并联一个开恢复或者肖特基二极管。这里是BOOTpin过压了。