LDO的高温老化实验问题请教（TPS736xx)

打算利用TPS736xx做一个电路，这块板需要做125度高温老化实验，输入3V，输出1.5V，正常工作功耗30mA，启动电流达到300mA，采用DCQ封装，计算温升有6度。

问题来了，芯片最大绝对温度是150度，推荐工作温度是-40到125度，在做高温老化实验时芯片结温会达到131度，要做1000个小时的实验，请问这个芯片还能不能用？

不想使用汽车级的芯片和航天级的芯片，因为太贵了。 

这个应该是没问题的，但是，实际如何，只有实际试验完才能知道。毕竟是在打芯片参数的擦边球，而且，影响性能的原因也还有很多的。

• Stresses beyond those listed under Absolute Maximum Ratings may cause permanent damage to the device. These are stress ratings only, which do not imply functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated under Recommended Operating Conditions.
• 一般不建议在使用时超过建议的温度范围，根据手册中的提示，极限参数不意味着在建议操作环境下的参数

不建议这样做

因为过温可能会照成不可逆的影响

您好，

一般不建议您超过温度范围使用，就算当时的芯片看起来没影响，也不保证对以后也没影响的，

个人经验来看，以前做过这种老化试验，并且是车载品，而且做完试验结果ok

请问老化的时候是带电老化的吗？如果是，不建议这样做。