CSD17308Q3 失效-急!
时间:10-02
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有个客户做恒温晶振,使用CSD17308Q3 来给晶振加热,前端采用运放驱动MOS CSD17308,MOS通过导热胶给晶体,该产品要求保持110恒温,所以MOS加热温度估计要120度了. 产品初期老化都没有问题,大概老化了7天,产品会有失效不工作现象,大概30% 比例;测量Rgs 只有10欧姆,正常IC 测量有10M以上;
有一点比较奇怪,这些问题IC,经过风枪加热后,MOS又恢复工作; 这种是不是MOS的热失效? 谁有遇到过这种问题吗?哪位大神帮忙看下啦!!!
你的线路是如何?
Rgs是在板测,还是单独测的?
外面110,内部非常接近 150;
过于极限了
可以考虑换成陶瓷封装或者金封的器件,能到210
记得2n2222我有在洋垃圾上见过这么用的,见附件
最好是电阻加热,
TMP007 (正在供货)
采用芯片级封装的具有集成数学引擎的红外热电堆传感器
这个对准晶体测回来,软件闭环恒温;MCU可以选430G系列或STM8系列
在板测得
请单独测一下MOS管,不确定是否是外部线路影响。
同时,你这个应用MOS管的温度比较高了,不太合适。