您好，

        对于BQ34Z100-G1应用于铅酸电池容量测量，我想请教以下问题：

1.对于一组电池完成学习过程，即完成更新QMax和Ra table值。将量产芯片启用IT算法，应用于长期处于浮充状态（电流不为0）且极少放电的情况下，

电池容量的测量，随之电池使用时间增长，Ra table值内阻值能更新么，什么时候更新？

是否芯片一直保持的是学习过程完成时的Qmax和Ra table值？一年，三年或者五年之后内阻值相较于最初的状态肯定有变化，怎么保证之后测量一年，三年或者五年之后的容量测量准确度，是通过充放电过程么？

2.BQ34Z100-G1的健康值显示为预测的FCC/design capacity，这个健康值的更新，对于长期处于浮充状态（电流不为0，但是极小）且极少放电的情况，是不是没有效果？

BQ34Z100-G1怎么保证预测的FCC的值的准确呢？

期待您的回复，谢谢！

34z100并不适用这样的条件。 

建议参考bq34110，针对极少放电的电池的寿命估算电量计芯片

Multi-Chemistry High-cell Count Battery Fuel Gauge w/Integrated Rarely Discharged Module

您好，

       BQ34110适用于极少放电的铅酸蓄电池的容量及寿命估算，在什么样的条件下能够进行容量及寿命估算呢？

1.必须有一个完整的充放电循环么？即充满电，放电到截止电压的过程。

2.我想问一下，这个极少放电的应用场景，指的是平时一直都是放电出极少部分的电量，从来不会放电到截至电压呢？

还是指平时除了自放电外不加任何负载的不放电，但是需要有放电放到截至电压（即放出100%的电量）呢？

3.BQ34110是只需要进行一些参数配置就能直接应用于终端产品（铅酸蓄电池组）的容量及寿命估算么？

如果不是，那么BQ34110的工作过程是怎样的呢？需要提前做哪些工作呢？

期待您的回复，谢谢！

同求工作过程，及读取数据流程。