求bqfs升级固件后，校验全部FLASH的指令和算法

附件里有张图片，是通过逻辑分析仪监控GaugeStudio得到的数据。

我猜这是一个“读全片校验的指令返回的数据”

W: 16+ACK 00+ACK  05+ACK

W: 16+ACK 64+ACK 05+ACK 00+ACK

R:  16+ACK 66+ACK 17+ACK 00+NAK

R:  16+ACK 04+ACK 17+ACK D8+ACK 4E+ACK 48+ACK 9E+NAK

R:  16+ACK 64+ACK 17+ACK 0C+ACK 02+NAK

W: 16+ACK 00+ACK 0F+ACK

W: 16+ACK 64+ACK 0F+ACK 00+ACK

延时4000ms

W: AA+ACK 00+ACK 01+ACK 00+ACK

...

已经进入正常模式

从数据流可以看出校验是D8 4E 48 9E，但是从SLUA504A的流程图来看，这个校验值是所有数据(32字节/块)的

和，并且去掉高16位，但是好像怎么也拼不出这个值来。

希望有做过这方面或者有资料的朋友帮忙解答一下，非常感谢

楼主可否告知需要知道这部分内容的目的？如果只是下载的话，只需要按照bqfs和dffs文件的内容进行烧录即可，这2个文件是自带了校验功能

谢谢。

如果让MCU来解释bqfs脚本的话，效率太低了。

我的目的是搞清楚每一条指令的功能，尤其是校验整个FLASH，因为如果烧入有误，那么退出ROM模式可能会导致芯片报废，生产是不允许出现这样的情况的。

我的做法是把bqfs文件转换成二进制映像，并且和CRC32/MD5一起存到下位机中，每次烧录的时候，都要对映像进行校验，确保固件没有问题。

EV2300的时序是非常慢的，我自己做的能最大限度提高产量。

如果找不到校验算法，那么可能就要全部读回来，重新比较一次了。