关于LMX2594相位噪声的问题

手册上标称相位噪声：归一化底噪为-236dBc/Hz，闪烁噪声为-129dBc/Hz，那么计算100MHz输入，200MHz鉴相，

输出15GHz时的相位噪声：底噪=-236+20log（1500/200）+10log(200*10^6)≈-115.5dBc/Hz;

                        100k处闪烁噪声=-129+20log（15）-10log（100/10）≈-115.5dBc/Hz;

那么在100KHz处的相位噪声应该为-112.5dBc/Hz@100kHz,但实际官方手册上给的实际测试见datasheet 上图6，在100KHz处只有-107.5（测试条件和以上计算相同），和理论计算相差5dB，作何解释？

另外，datasheet 上图4,100MHz鉴相频率下，输出12GHz时的相位噪声在100kHz处为-112dBc/Hz，但图8所示，200MHz鉴相频率下，实测输出11GHz时相位噪声在100kHz处为-109.4dBc/Hz，那么在100MHz鉴相时，相噪应增加3dB，为-106.4dBc/Hz，与输出12GHz的-112dBc/Hz折算出来也是相差5dB的。

请问官方作何解释？

我现在做了一个测试板，遇到两个问题。1、目前我测试的值和官方给的实测值有3dB差异，这个也有一定可能性，正在找问题。我用的恒温晶振相噪很好的，-158dBc/Hz@1kHz，-163dBc/Hz@10kHz，-168dBc/Hz@100kHz，输入功率也合适，不知道是不是单端输入或者正弦波的参考造成相噪差了3dB？目前正在查找问题。2、在输出7GHz时，VCO 14GHz除2得到，输出7GHz的同时，也输出3.5GHz和10.5HGz，3.5GHz约为-50dBc，10.5HGz约为-65dBc，难道7GHz又参与了分频？其实之前HIttite的可变分频器HMC862在低温时我们就遇到这种问题，不只有输入信号参与了分频！不知道官方有注意到以上问题没？

为何提问都两周了，为何没有官方人士给出解答？关于相位噪声及输出杂散的问题？

这个问题太高深，没人能够回答

你好前辈，（不知道该怎么称呼才合适），我最近也在调试这个锁相环，测试结果200MHz鉴相在100khz处为-107dBc/Hz,我的晶振的相噪就没有你的好，

不知道前辈有没有调试扫频功能呢，我按照TI提供的软件TICSPRo生成的寄存器进行配置并没有得到想要的结果，有频率在扫，但是扫的范围不对，改变RAMPx_inc和RAMP_LEN的参数，输出的频率范围并没有改变，不知道是什么问题，这里是我的联系方式，qq：2635993229，（验证写明来意）希望可以一起交流，得到前辈的指导。谢谢~

首先，恭喜你！因为你的测试数据和手册给的测试数据几乎相同了，那就说明你的设计，布板，参数配置说明已经将器件性能发挥到了极致！

扫频功能我还没有调试过，现在还不能和你一起交流，抱歉！你测试相噪是用的什么仪器？E5052？还是频谱仪的MARK NOISE功能，还是频谱仪带的测试相噪曲线的插件功能？

我感觉频谱仪测相噪的精度不好，不知道是不是频谱仪的底噪太高的缘故