lm98640 的test pattern模式

我现在按照芯片手册的说明配置lm98640的test pattern模式，但是并没有输出，请问有人遇到过类似的问题，跪求解答。在线等

这个是test pattern mode 的步骤： To start the test pattern generation, enable Test Mode using bit[1] of the Test and Scan Register (0x3D). Then load all parameters for the desired test pattern into the registers, and set Pattern Enable bit of the Test Pattern Control Register (0x34). Changing pattern parameters after the  Pattern Enable bit is set may result in undesired output. The pattern will start at the next leading edge of CLPIN.

另外，建议您使用LM98640的 AFEval GUI软件，即使您不是使用的demo板，但是可以通过这个GUI中的test pattern mode应用double check下您自己的寄存器是否配置正确。http://www.ti.com/tool/LM98640CVAL?keyMatch=LM98640&tisearch=Search-EN-Everything

但是这个软件只能在XP或之前的系统中使用，Win7不支持的。

现在我只能配置101这个模式，而且在这个模式下，像素的有效宽度和像素的无效宽度都不受控制。其他的模式也不能控制。请问您之前遇到过吗。

我想控制像素的有效区域的长度，和像素的无效的长度，我应该选用哪种模式呢