lmh0030怎么进入test模式

使用单片机对其进行控制字写入，逻辑为

触发aclk 3次（控制字的命令时钟较慢，不到1M，应该识别没有问题，为了保险此处触发aclk6次）

对多功能io口进行功能设置

format寄存器写入1a,即1080p25

video info0寄存器写入20 使能vpg filter

test mode0寄存器写入36,（datasheet上说这应该是normally on 的设置）

test0写入34这是对输出模式的选择

然后把io bit7置1，使能tpg enable

然后几毫秒后对vclk加入74.25MHz的时钟

请问这样设置有什么问题吗，pass/~fail管脚一直没有输出高电平，说明没有进入test模式。（当然我每个寄存器写入时都是按时序来的，就是ad[9:8]00地址,触发一次aclk，ad[9:8]11数据，触发一次aclk。写入IO口的数据也是只要触发一次aclk就可以了吧。以上命令都是以us级的速度写入的，应该可以读取吧。）请问一下各位专家，我这样设置为什么进入不了test模式呢？

会不会是format0，test mode0的设置有所多余，或者其他edh、anc寄存器有需要设置的没有设置？

还是时钟加的有问题，datasheet上特别说明最好写完命令再加时钟，我延时了几ms,还有datasheet上提到了使用默认的标清模式时vclk不可超过27MHz，否则锁相环会locking up，这和我对数模式的设置有关吧，比如我输出高清信号是不是要加74.25MHz的vclk?还是说仍需要27MHz的？

菜鸟学生求教

顶一下，麻烦各位大神指教

手册的第17页的例子有帮组吗？

谢谢您的关注，我在按照该例子设置后确实有信号输出，但是pass/~fail管脚并未按照所说变为高电平，说明并未正确进入test模式。因此我想知道是否只按照该方式设置即可，而其他寄存器均采用默认方式呢