ADC有效位测试

测试有效位数（ENOB），需要测试SINAR,都是使用相干采样，采集整数周期的信号，然后进行FFT频谱分析计算，信号频谱为一根线。

如果使用非相干采样，必须加窗处理，信号频谱会展宽，幅度会下降，那么需要统计信号周边几个点来当做信号的能量呢?即便是这样，ENOB的性能也没有同步相干采样好吧？ 有人研究过这个问题吗？

TI一般使用相干采样测试还是非相干采样测试

这个测试方法, 需要采样频率和输入信号的频率之间有一定的关系. 

fs = f0 M/N

具体还是看相关文献吧

TI的高速的ADC有一个免费评估软件叫HSDC Pro

http://www.ti.com/tool/dataconverterpro-sw?keyMatch=hsdc%20pro&tisearch=Search-EN-Everything

安装后你就会发现

它提供了两种方法，相干采样和非相干采样

  这个软件需要连接硬件吗，还是说可以软仿真

可以自己input数据文件