有关运放的输出电阻的疑问？

Tim Green 运放稳定性文档中的第三部分，关于运放开环输出电阻R0的实测部分有如图一段描述，请问如何理解"Rout=Ro,since no loop gain to reduce Ro?"

看看 TI 官方专门的采样保持电路里有没有你的选择

http://www.ti.com.cn/lsds/ti_zh/amplifiers-linear/sample-and-hold-products.page?paramCriteria=no

Ro = Roo/(1 + AB), A 很小，所以最终Ro和open 时的Roo接近。

可是文档给出的工作点是闭环增益40dB ,在f=1M时，开环增益接近20dB,此时闭环增益如何为40dB ,若要使开环输出电阻等于闭环输出电阻则环路增益应该远小于1，即在Aol*β《1时，Rout=Ro/(1+Aolβ)=Ro,但是文档中的条件貌似不满足这个条件，求解文档中所谓的 “no loop gain”  怎么理解，想不明白郁闷得很，往前辈们指教

你好，应该就是楼上所说的“Ro = Roo/(1 + AB), A 很小，所以最终Ro和open 时的Roo接近”。

文章中提到如果以增益100和1 MHz频率来对此运放进行测试，那么将不会有环路增益Aolβ。这个时候环路增益Aolβ怎么就没有了？

通过下图就基本可以看出来：

当设定测试的输入评论为1 MHz的时候，其开环增益大概为17dB(x7),1/β=100,得到Aolβ=0.07.

所以根据文章中的公式Rout = Ro/(1 + Aolβ)，可以得到“如果以增益100和1 MHz频率来对此运放进行测试，那么将不会有环路增益Aolβ”这样的结论。

谢谢大家的参与，特别感谢Andy的详细解答，不过图中的曲线还是有点问题：在f=1MHz时闭环增益已经不再是1/β，或者说在fcl之后，闭环增益曲线应该和开环增益曲线一样衰减了，谢谢大家的解答。

其实我们也可以通过文章“ROUT的运放模型”章节，得出这样的结论：

"不过图中的曲线还是有点问题：在f=1MHz时闭环增益已经不再是1/β，或者说在fcl之后，闭环增益曲线应该和开环增益曲线一样衰减了"

对于你的这个问题，我的理解是：

本来1M的输入测试信号，100的增益，对于这个运放来说其实已经是超出了去线性的频率特性范围，开环增益变得很小。

我们也就是利用了这个特性，从上图可以看到，最终输出Vout是由落在Ro上的电压VRo串联上开环增益输出Vo得到（Vout=VRo - Vo）。

我们是不是可以理解为把β反馈网络和AOL开环增益网络分开来看，1/β这个值是由外围的电路（纯阻抗网络）来决定，只是β反馈网络的信号源Vout会受“闭环增益曲线和开环增益曲线衰减”的影响，其比值无论什么情况下都是个固定值？

所以，AOL开环增益衰减的越是厉害（大的增益，高的测试输出信号频率），输出电压（Vout=VRo - Vo）更多部分会落到Ro这个输出电阻上，这样一来我们通过公式和测量得到的Rout值越是靠近Ro值，通过这个方法得到的Ro值的误差就会越小。

以上是我个人的看法，如有不同意见欢迎跟帖讨论。