TAS5630 2.1CH 声道 分离度问题 求解

PVDD：44V

GVDD：12V

散热器接地良好，加载功率输出正常

A+B  4欧负载

C/D  2欧负载

问题现象：当A+B输出时  ，C,D分离度很低。

              (C,D分离度随A+B输出幅度而变化，但两者不同步。串扰到C，D的信号频率随A+B输出幅度变化)

                   A+B不管在空载还是加载，C，D分离度都存在一样的问题。

                   断开R29，R30，加大C20，C23至0.1uF,问题同样存在。

                当将电路接成2CH，2*BTL时，C+D干扰消失，经测试，C，D干扰同样存在，只是CMRR提高，BTL时互相抵消了。

               当2.1CH时，A+B会干扰C，D。C与D互相干扰。

                当散热器不接地时，干扰更严重。

当A+B输出电感去除后，干扰依然存在

当A+B PVDD，GVDD采用外部供电后，干扰依然存在

有两点需要验证：

1. 请在PVDD与PGND间加一8Kuf的电容验证。

2.目前您的输入信号的频率为多大？请改变频率验证是否有所改善？

1.加大PVDD与PGND间电容对该问题没有改善

2.输入信号为50Hz-2KHz,在这个频段间都存在干扰

谢谢你的关注，我在E2E上有看到一个关于TAS5630与TAS5630B的改善点的贴子，上面有提到TAS5630B改善了声道分离度的问题。并且TI已经在官网上发出不建议使用TAS5630的公告。是不是IC本来就有这个缺陷。