两种ADC采集方案比较
时间:12-12
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有一个原始的信号,电压在 -1V至+1V之间波动,现在要对其放大采样,有两种方案:
(1)用运放放大到-5V到+5V的范围内,然后用ADC采集器采集,位宽8bit,输入电压范
围-5V至+5V
(2)用运放放大到-10V到+10V的范围内,然后用ADC采集器采集,位宽8bit,输入电压范
围-10V至+10V
两种方案那种更好呢?咋一看貌似(1)好,分辨率是(2)的两倍,但是折算到原始的电压
范围内,其实分辨率是一样的
那种方案更胜一筹呢?
(1)用运放放大到-5V到+5V的范围内,然后用ADC采集器采集,位宽8bit,输入电压范
围-5V至+5V
(2)用运放放大到-10V到+10V的范围内,然后用ADC采集器采集,位宽8bit,输入电压范
围-10V至+10V
两种方案那种更好呢?咋一看貌似(1)好,分辨率是(2)的两倍,但是折算到原始的电压
范围内,其实分辨率是一样的
那种方案更胜一筹呢?
正负电压的ADC不好找啊。如果想提高分辨率,应该把信号放大到0到5(或者0到3)然后用12位ADC。
暂时只讨论两种方案性能的优劣,不考虑实现的难易程度
性能的有优劣不是需要包括实现的难易么?
难道是大学考试题?
姑且当它是小小的research课题吧,当前我们只在纸上谈兵
只有理论上的差别,实际应用中指标没有差别。而且前者功耗、供电、芯片选型方面更好。
放大可以提高采集的信噪比,假如本身电路噪声就是1v,那更大的放大倍数采集精度会更高
你这里提到的噪声是指在AD转化过程中ADC芯片自身产生的噪声吗?
电路里面的,跟ad没有关系
噪声也放大了。
有放大的,也有没放大的,比如你是放大+抗混+采样,那么抗混和采样电路底噪的影响会降低,这两部分电路的设计难度也跟着降低了
这样说还是有道理的