求测量系统中的光电隔离解决方案？

在一个测量系统中，需要进行光电隔离（绝缘需要），光电系统传输的信号包括AD转换器的时钟信号和测量结果的数字信号，系统结构如图所示，比较简单的解决方案？
用光端机似乎功耗比较大，也比较复杂，需要做协议？

 新建_Microsoft_Office_Visio_绘图.emf

前提在于AD的采样速度是多少?

准备做1M的

1M的话可以考虑用fpga采样+发送数据
mcu也能搞得定。

1M采样率，如果通道不多，用个SPI口的ADC就可以。用光耦2630 或者TI 的ISO7230、ADI的 Adum1400等器件隔离。如果通道多，需要用并行的ADC，用多通道的光耦或者磁耦。

我一直不清楚adum对外界的辐射到底有多大？尤其是自带隔离电源的那种。有篇appnot
e讲emi之类，也是吹自己多好.
除了adi的，TI等一些用的不是这个技术，不知道怎么样

在微弱信号系统里面要小心处理，曾经出过问题