亚阈值的参数测试问题

小弟有几个问题不是很明白：亚阈值公式是：Id=Id0*（W/L）*EXP(Vgs/nVt)
                                       但是Id0和n都不受(W/L)影响，那是不是就是说在Vgs确定的情况下，Id与(W/L)成线性关系?
                          当我求亚阈值某个MOS管的宽长比时，是不是扫描下(W/L)与Id关系，在Id已知的情况下，就可以直接求出W/L?